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FRA5087頻率特性分析儀(yi) 儀(yi) 器測量要求
3628NF可編程濾波器是一種理想的補償(chang) 諧波裝置
TH2825A型高速LCR數字電橋
聯係電話:0512-68051240
簡要介紹
■TH2825A型高速LCR數字電橋是本公司重點推出的新一代元件參數測試儀(yi) 器。該產(chan) 品可提供高達15ms/次的測量速度、50Hz100kHz十點測試頻率、以1mV步進的0.01V-1.0V可編程信號電平、5位讀數分辨率、多種源內(nei) 阻選擇和強大的測試功能,可滿足生產(chan) 線質量保證、進貨檢驗及元件設計和評估的測量要求。
高速測量
■本產(chan) 品運用了元件測試領域的技術,測試能力可達到甚至超越Agilent4363B的水平,提供了的zui高測量速度15ms/次,尤其是解決(jue) 了長期困擾測試部門低頻測試速度慢的難題,為(wei) 低頻元件如電解電容器、變壓器的高速測試提供了解決(jue) 方案。
多種可選的信號源阻抗模式
■不同LCR表由於(yu) 輸出阻抗的不同可能得到不同的測試結果,TH2825A提供五種可選的阻抗模式以適應不同的需要,保證不同儀(yi) 表間測試結果的*性。
恒電平模式適用於(yu) 多層陶瓷電容器(MLCC)的測量
■陶瓷電容器(MLCC)對測試信號電平極為(wei) 敏感,TH2825A能以恒定的高電平測試信號高速測量大容量陶瓷電容器,允許在恒定1kHz/1Vrms條件下對高達30μF的MLCC進行測試,100Hz測量可對300μF電容器提供恒定的1Vrms測試信號。
強大的變壓器測試能力
■TH2825A具備變壓器測試能力,使用專(zhuan) 門的變壓器測試夾具,無須改變測試線方式便可方便地測量匝數比(N,1/N)、互感(M)、初次級電感(LA、LB),初次級直流電阻(DCR2)。有-5V-5V偏置電壓(僅(jin) TH2825A),可方便地用於(yu) 通訊變壓器和小功率扼流圈的測試。
■該產(chan) 品提供的HANDLER、GPIB接口及GPIB接口命令與(yu) Agilent
與(yu) 儀(yi) 表的接口兼容性
技術參數
型號 | TH2825A | ||
顯示器 | 240x64點陣LCD顯示器,5位讀數分辨率 | ||
測試參數 | LCR參數 | |Z|,R,X,G,B,C,L,Q,D,θ(deg),θ(rad),DCR | |
變壓器參數 | DCR,DCR2,M,N,1/N,LA,LB | ||
測試頻率 | 50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,20kHz,40kHz,50kHz,100kHz,共10點 | ||
測試電平 | 10mVrms-1.0Vrms,1mV步進<200mV10mV步進≥200mV | ||
信號源內(nei) 阻 | 25Ω,100Ω,25Ω/100Ω,C.V.(恒壓) | ||
DC偏置電流(≥1kHz) | 當100Ω內(nei) 阻時,±50mAMax當25Ω內(nei) 阻時,±200mAMax | ||
基本測量準確度 | 0.1% | ||
| |Z|,R,X | 0.01mΩ—99.99MΩ | |
| G,B | 0.0001μS—999.99S | |
| C | 0.001pF—1.9999F | |
| L | 0.001μH—99.9999kH | |
| Q | 0.0001—9999 | |
顯示範圍 | D | 0.0001—9999 | |
θ(DEG) | -180.00°—180.00° | ||
| θ(RAD) | -3.1415—3.1415 | |
| Δ% | -999.99%—999.99% | |
| TurnsRatio | 0.001—9999.9 | |
| DCR | 0.1mΩ—99.99MΩ | |
| M,L2 | 0.001μH—99.99kH | |
測量速度(≥100Hz) | 快速:15ms(注1),中速:66ms,慢速:500ms | ||
等效電路 | 串聯,並聯 | ||
量程方式 | 自動,保持/手動切換 | ||
觸發方式 | 內(nei) 部,手動,外部,總線 | ||
平均次數 | 1—255 | ||
校準功能 | 開路,短路,負載校正 | ||
測量端 | 5端 | ||
顯示方式 | 直讀,ΔABS,Δ%,V/I(電壓/電流監示),檔號及檔計數 | ||
列表掃描 | 4點頻率,電平列表掃描測試 | ||
比較器功能 | 九檔(八檔合格,一檔不合格) | ||
上超/合格/下超比較器 | |||
存儲(chu) 器 | 12組內(nei) 部儀(yi) 器設定供存儲(chu) /調用 | ||
接口 | RS-232C,HANDLER,GPIB(選件) | ||
| 4263B*兼容,為(wei) 與(yu) 4263B的互換提供了良好的條件。 | ||
| 注1:快速測試時間包括A/D、計算、主/副參數小字符顯示比較判別。若包括測試參數大字符顯示,zui快測試時間另加5ms。 |
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